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DS1815
3.3V、经济型复位芯片,带有推挽输出


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状态
状况:生产中。

数据资料
完整的数据资料 (PDF, 128kB)
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概述
DS1815使用精密的温度补偿基准和比较器电路,监测电源(VCC)状态。当检测到电源超出容差时,器件将产生内部的电源失效信号,强制复位输出处于有效状态。当VCC返回到容差以内时,复位信号继续保持有效状态150ms,以电源和处理器进入稳定状态。

关键特性
  • 在电源失效之后,自动复位微处理器
  • 在VCC返回容差后,复位信号继续保持有效150ms
  • 减少所需的分立元件
  • 精确的温度补偿电压基准和电压检测器
  • 5%、10%、或20%精度的电源监视
  • 采用低成本TO-92或节省空间的表贴SOT23封装
  • 推挽式输出,低电流工作
  • 工作温度范围-40°C至+85°C

Key Specifications:  Supervisors (1 Monitored Voltage)
Part Number Reset Thresh.
(V)
Reset Out tRESET Watchdog Feature Reset Thresh. Accur.
(%)
ICC
(µA)
Price
Active Low min @ +25°C max See Notes
DS1815  2.5 to 3.3 Push-Pull 85ms to 300ms No Watchdog 2.5 35 $0.54 @1k
查看所有Supervisors (1 Monitored Voltage) (274)

图表
DS1815:原理框图
原理框图

应用笔记
  • App Note 3316: Dallas Semiconductor Microprocessor Supervisor Selection Guide - DS1815 (English only)

    可靠性报告
  • 可靠性报告: DS1815.pdf (English only)

    软件/模型

    定购信息
    注:

    1. 购买产品,请访问:http://china.maxim-ic.com/sales
    2. 没有找到您所需要的器件?请咨询我们的应用工程师。我们的专家会帮助您找到合适的器件,通常在一个工作日内回复。
    3. 型号尾缀:T或T&R = 卷带; + = RoHS/无铅; # = RoHS/无铅豁免权。详细信息请参考:完整的数据资料型号命名规则
    4. * “封装代码/变更”提供产品使用的变更信息。注意:型号尾缀中的“+”、“#”和“-”表示器件的RoHS状况,封装图上可能显示不同的尾缀字符。


    器件: 1-18/18

    DS1815 免费样品 采购 状态
    封装: 类型 引脚 占位面积
      封装图编码/变更 *
    温度 RoHS/无铅?
    材料分析
    DS1815R-10+T&R   3.3V-10%  
    Active SOT;3引脚;8mm²
    封装图: 21-0051 (PDF)
    连接盘图形: 90-0179 (PDF)
    使用封装码/变更:U3+4*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:无铅
    材料分析
    DS1815R-20+T&R   3.3V-20%  
    Active SOT;3引脚;8mm²
    封装图: 21-0051 (PDF)
    连接盘图形: 90-0179 (PDF)
    使用封装码/变更:U3+4*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:无铅
    材料分析
    DS1815R-5+T&R   3.3V-5%  
    Active SOT;3引脚;8mm²
    封装图: 21-0051 (PDF)
    连接盘图形: 90-0179 (PDF)
    使用封装码/变更:U3+4*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:无铅
    材料分析
    DS1815R-5/T&R   3.3V-5%  
    Active SOT;3引脚;8mm²
    封装图: 21-0051 (PDF)
    连接盘图形: 90-0179 (PDF)
    使用封装码/变更:U3-4*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:
    材料分析
    DS1815R-10/T&R   3.3V-10%容差  
    Active SOT;3引脚;8mm²
    封装图: 21-0051 (PDF)
    连接盘图形: 90-0179 (PDF)
    使用封装码/变更:U3-4*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:
    材料分析
    DS1815R-20/T&R   3.3V-20%容差  
    Active SOT;3引脚;8mm²
    封装图: 21-0051 (PDF)
    连接盘图形: 90-0179 (PDF)
    使用封装码/变更:U3-4*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:
    材料分析
    DS1815-20+  
    Active TO92;3引脚;19.5mm²
    封装图: 21-0248 (PDF)
    连接盘图形: Not Applicable
    使用封装码/变更:Q3+1*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:无铅
    材料分析
    DS1815-10+  
    Active TO92;3引脚;19.5mm²
    封装图: 21-0248 (PDF)
    连接盘图形: Not Applicable
    使用封装码/变更:Q3+1*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:无铅
    材料分析
    DS1815-5+  
    Active TO92;3引脚;19.5mm²
    封装图: 21-0248 (PDF)
    连接盘图形: Not Applicable
    使用封装码/变更:Q3+1*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:无铅
    材料分析
    DS1815-5   3.3V-5%监测精度  
    Active TO92;3引脚;19.5mm²
    封装图: 21-0248 (PDF)
    连接盘图形: Not Applicable
    使用封装码/变更:Q3-1*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:
    材料分析
    DS1815-10   3.3V-10%监测精度  
    Active TO92;3引脚;19.5mm²
    封装图: 21-0248 (PDF)
    连接盘图形: Not Applicable
    使用封装码/变更:Q3-1*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:
    材料分析
    DS1815-20   3.3V-20%监测精度  
    Active TO92;3引脚;19.5mm²
    封装图: 21-0248 (PDF)
    连接盘图形: Not Applicable
    使用封装码/变更:Q3-1*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:
    材料分析
    DS1815-5/T&R   3.3V-5%  
    Active TO92;3引脚;27.6mm²
    封装图: 21-0250 (PDF)
    连接盘图形: Not Applicable
    使用封装码/变更:Q3-4*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:
    材料分析
    DS1815-10/T&R   3.3V-10%  
    Active TO92;3引脚;27.6mm²
    封装图: 21-0250 (PDF)
    连接盘图形: Not Applicable
    使用封装码/变更:Q3-4*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:
    材料分析
    DS1815-20/T&R   3.3V-20%  
    Active TO92;3引脚;27.6mm²
    封装图: 21-0250 (PDF)
    连接盘图形: Not Applicable
    使用封装码/变更:Q3-4*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:
    材料分析
    DS1815-10+T&R   3.3V-10%  
    Active TO92;3引脚;27.6mm²
    封装图: 21-0250 (PDF)
    连接盘图形: Not Applicable
    使用封装码/变更:Q3+4*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:无铅
    材料分析
    DS1815-20+T&R   3.3V-20%  
    Active TO92;3引脚;27.6mm²
    封装图: 21-0250 (PDF)
    连接盘图形: Not Applicable
    使用封装码/变更:Q3+4*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:无铅
    材料分析
    DS1815-5+T&R   3.3V-5%  
    Active TO92;3引脚;27.6mm²
    封装图: 21-0250 (PDF)
    连接盘图形: Not Applicable
    使用封装码/变更:Q3+4*
    -40°C至+85°C RoHS/无铅:无铅
    材料分析

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    2002-01-30
    本页最后一次更新: 2009-10-23


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