摘要：为防止电池过放电，DS2784提供欠压保护。本应用笔记解释了欠压保护延时(tUVD)是如何实现的。 绪论 DS2784具有欠压保护电路，可防止电池过放电。当检测到欠压情况时，DS2784关闭充电和放电FET，并将保护寄存器的UV标志位置位。本应用笔记解释了DS2784的电压和温度测量的ADC功能及其与器件欠压保护延时(tUVD)的关系。 说明 DS2784采用一路ADC来测量温度和电池电压。该ADC输入在2路信号间复用，每220ms在温度测量和电压测量之间切换一次。ADC采样速率为18.6kHz，每220ms可得到4092个采样值；然后将这些采样值的平均值报告给用户。温度和电压测量每440ms更新一次，在相应的测量周期结束时进行更新。图1所示为ADC的温度和电压测量复用时序。 图1. ADC测量的复用时序图。ADC每220ms切换一次温度测量和电压测量，并且每440ms更新一次寄存器。 对于欠压情况，芯片内没有与之相关的模拟电压比较器或者人为的延时电路。延时功能是对电压测量值进行平均时所固有的特性。如果在220ms周期结束时电压寄存器中的值内低于VUV，则保护器进入欠压(UV)保护模式。由于电压寄存器中的电压值是基于ADC采样值的平均，所以用户看到出现欠压条件响应的时间可以变化很大。例如，如果电池电压在220ms采样窗口的多数时间内都高于VUV，但在220ms采样周期结束时跌落至远低于VUV，从而导致该采样窗口内的平均值低于欠压门限，则在该采样窗口(图2)结束时就会报告出现了欠压状况。然而，如果电池电压远高于VUV，但正好在接近220ms采样窗口开始位置时跌落至低于VUV，则该采样窗口的平均电压值仍大于VUV。这种情况下，在下一个220ms电压测量窗口结束之前将不会报告出现了欠压状况(图3)。 图2. 最小tUVD的情况。在该实例中，电池电压在测量窗口的多数时间内高于VUV，但之后降低至欠压门限以下，导致220ms采样窗口内测到的平均电压低于VUV。 图3. 最大tUVD的情况。在该实例中，电池电压远高于VUV，即使电压降低至欠压门限以下，220ms采样窗口的平均电压仍保持大于VUV。因此，在下一个电压测量窗口之前不会记录欠压条件。 总结 因为DS2784的ADC每440ms报告一次220ms内的平均电压测量值，欠压保护延时功能已固化在电路设计中，无需额外的内部电路来实现欠压保护延时功能。 自动更新 需要自动接收最新发布的应用笔记吗？请订阅EE-Mail™ (English only)。 我们期待您的反馈！ 喜欢？不喜欢？有待改善？或为我们提供建议？请与我们联系 — 我们将根据您的意见或建议改善我们的工作。 网页评价或提供建议   下载，PDF格式 (32kB)  AN4062, AN 4062, APP4062, Appnote4062, Appnote 4062